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液氮低温恒温器-LNT-3E(教学版）
液氮低温恒温器-LNT-3E(教学版）
LNT系列液氮低温恒温器，是利用稳态气泡原理使样品处于恒定或按照所需方式变化的低温环境中，并能对样品进行一种或多种物理性能测量的低温恒温装置。
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液氮低温恒温器(LNT-3）
液氮低温恒温器(LNT-3）
LNT-3系列液氮低温恒温器，是利用稳态气泡原理使样品处于恒定或按照所需方式变化的低温环境中，并能对样品进行一种或多种物理性能测量的低温恒温装置。
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变温变磁霍尔效应测试仪HET-3TM
变温变磁霍尔效应测试仪HET-3TM
变温变磁霍尔效应测试系统HET-3TM支持标准法和范德堡法两种测量方法。其中标准法通过测量特定方向电压差计算参数；范德堡法测量材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等电运输性能参数，该方法可对薄膜或薄层材料进行测量
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科教一体霍尔效应测试仪
科教一体霍尔效应测试仪
教学仪器的价格，科研设备的体验：科教一体霍尔效应测试仪HET-3L是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考。
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霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统(HET-3RT)
霍尔效应测试系统（霍尔效应测试仪）HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、方阻等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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霍尔效应测试系统(HET-3)
霍尔效应测试系统(HET-3)
霍尔效应测试系统HET-3依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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塞贝克和电导率测试系统
塞贝克和电导率测试系统
塞贝克和电导率测试系统 ，专门针对薄膜材料的塞贝克系数和电导率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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